在光通信和光纤传感领域,光纤光路具有稳定、方便运输、传输损耗低和易于工程化的优点。光纤光路在连接过程中,会使用大量的光纤器件并且光纤器件的性能会最终影响光路的性能指标。白光干涉测量技术具有高分辨率和绝对测量的优势。基于白光干涉原理的光纤器件反射特性测量技术可以对光纤器件进行高灵敏度、高精度、高空间分辨率的表征。本文基于白光干涉测量原理,设计一种光纤器件反射特性测量系统,可应用于对光学器件的反射特性的相关参数进行分布式表征。主要研究工作包括:(1)针对白光干涉测量系统中延迟线的量程限制了待测器件的测量范围,我们对延迟线量程扩展这项关键技术进行研究。对大量程延迟线扩展方案、标定以及接续方案和应用方法进行详细的研究,并且对大量程延迟线的损耗、损耗波动和延迟精度进行探讨。(2)白光干涉测量系统中的杂散干涉峰会恶化系统的灵敏度、空间分辨率和测量精度,我们对杂散干涉峰抑制进行研究。针对光纤器件的内部残余反射和光路连接过程中产生的杂散干涉峰开展抑制方法研究。(3)基于白光干涉测量技术,我们对光纤器件测量系统的方案进行设计,并逐步完善测量系统总光路。我们还提出了对光路参数进行优化的方案;利用构造的测量系统,开展对一些光纤器件的测试方法研究,对光纤器件的反射特性相关参数进行分布式表征。基于以上工作,我们构建出一套基于白光干涉原理的光纤器件反射特性测量装置。该装置可实现-122 dB的测量灵敏度、95 dB的动态范围、?0.6dB(3?)的测量精度、19.86μm的空间分辨率,等效为空气中1.6米光程的测量范围。