为了满足FDD-LTE终端市场需求产出,提高FDD-LTE终端生产测试效率,本文对FDD-LTE终端的射频生产测试方法进行了细致的研究,实现了快速测试,取得了一些研究成果。首先提出终端FDD-LTE射频自动测试系统实现。针对工厂大批量生产,提出FDD-LTE射频自动测试所需的硬件环境搭建、软件架构实现、数据库模型设计等一整套方案。硬件环境上采用罗德斯瓦茨的无线综合测试仪CMW500,配备安捷伦66319B高精密可编程电源和射频测试夹具。软件架构上为仪器的扩展预留了接口,且具备灵活配置的特性,有利于测试调试和工厂权限管理。采用SQLServer2008作为数据库服务器,为数据分析、生产过程追溯和工位管控提供了基本的保障。通过研究LTE的基础知识和关键技术,对LTE的行业技术标准进行学习,尤其是发射和接收关键项目和指标的测试步骤和标准进行分析,实现传统模式的射频常规测试。介绍了常规的测试项目,例如：发射机的最大输出功率和频率误差,接收机的参考灵敏度。对终端FDD-LTE射频快速测试进行了研究。在实现基本的FDD-LTE射频测试后,介绍了射频校准和综测提高速度的几种办法。射频校准通过芯片厂商和仪器之间的配合和同步,并且借用时隙/帧结构,避免计算机和手机、计算机和仪器之间来回切换,大幅度地提高了校准效率。射频综测则从信令方式改为非信令,减少空中协议的注册和连接时间。射频综测项目也可以借用时隙/帧结构,把测试项目从串行测试的方式改为并行方式。对快速测试的测试数据进行分析。采用工程质量的手段,通过Gage R&R(测量重复性和再现性)的方法,来判断是否会因快速测试而导致测试结果的不稳定、不可靠。通过分析得到,采用这一系列快速测试方法后,整个测试系统的%GR&R为24.93%(<30%),在批量生产是可以被接受的。