随着电子技术的发展,电子芯片的结构越来越精密,外围引脚排列越来越紧凑,内部逻辑也越来越复杂,对大规模集成芯片的测试难度也大大增加,这就要求测试人员能提供更简单和精确的方法对芯片进行故障诊断及维护。本课题针对集成电路测试的新特点,研究了以边界扫描技术为基础的电路测试方法,对存储器测试、互连测试等关键技术进行了建模,并编写出通用的边界扫描测试软件,弥补了传统测试方法的不足,具有很强的实用性。本文针对边界扫描测试建模的关键技术进行了以下几方面的研究。首先,根据边界扫描测试软件需求分析,制定边界扫描测试软件的总体规划,采用分层模块化的结构,以C语言为基础实现了各个测试模型的软件编写。本文根据测试对象的特点,从测试原理,测试算法,故障模型和诊断方法等几方面入手,建立了相应的测试模型。通过合理的层次划分和软件设计,实现了边界扫描软件不同层次化的建模。其次,本文从边界扫描基本原理出发,对边界扫描测试方法进行了研究,基于边界扫描测试原理,建立了存储器和互连测试模型。存储器测试划分为存储器信息模型、存储器故障及存储器算法模型,互连测试划分为互连结构模型、互连故障故障及互连算法模型。探讨了不同测试算法的故障检测能力,提出了一种优化的互连测试算法。最后,本文基于上述关键技术建立了边界扫描测试软件系统,对边界扫描测试模型和方法进行了实验验证。设计了实验验证板,并利用第三方的上位机程序构建测试验证平台,对存储器和互连两个关键技术进行了实验验证,通过模拟故障,验证了测试模型的正确性。实验表明,本文建立的测试模型和提出的测试方法能够对大规模数字芯片进行有效的测试,并能对故障进行正确的诊断,测试效率高,实用性强。综上所述,本文设计的边界扫描测试软件具有可测试、通用性及可扩展性的特点,具有较强的故障诊断能力,因此,本文针对边界扫描测试建模的关键技术研究具有较强的实用价值。