本文首先介绍了存储器测试的背景和意义然后介绍了存储器的电路模型图,存储单元,工作原理。在此基础上介绍了存储器的失效模型和测试算法。接下来介绍存储器常用的三种测试方法：存储器直接寻址测试法；嵌入式微处理器测试,存储器内建自测试。比较和这三种方法,得出MBIST测试方法是最新的低成本,高效率的测试方法。还介绍了MBIST的理论和架构,基于移位寄存器的MBIST的实现,设计工具和设计流程。介绍MBIST的设计是为了方便理解MBIST的测试。本文的重点是MBIST的测试实现,包括：自动测试系统(ATE)的资源和配置,测试向量生成,测试程序架构和流程。因为受限于低端测试机的资源配置,我们不得不开发扩展的测试工具帮助测试,取的了很好的效果。最后分析测试数据时,我开发了脚本工具和VBA程序来帮助我们批处理文本文件,大大提高了数据的分析效率。