传统的自动测试设备(ATE)已经不能满足大规模集成电路测试的需求,芯片内建自测试(BIST)已经逐步运用到芯片测试中.为了推动逻辑的BIST在工业中的应用,研究逻辑BIST具有重要意义.本文以提高逻辑BIST的测试质量即提高故障覆盖率、减少测试硬件开销和测试时间为目的,对混合式BIST中的测试生成和线性相关性展开研究.本文首先介绍了BIST的结构原理、测试生成的方法和在逻辑测试中的应用方法.然后针对混合式BIST中研究的难点——确定性测试矢量生成,进行讨论.然后提出了LFSR直接产生法和其测试生成结构并针对映射法、重置种子法提出了静态矢量压缩和确定性矢量串连两个优化算法和结构.实验表明新的方法和结构较为显著的提高了混合式BIST的测试生成的质量.接着本文讨论了影响混合式BIST测试质量的线性相关性的产生机理,分别提出了针对基于一维LFSR的测试生成结构的相关性检测方法和步骤以及二维TPG中移相器设计的算法和步骤.实验结果显示所提出的检测测试生成中的矢量和结构相关性的方法是有效的,对于提高故障覆盖率和提高测试效率具有重要作用.最后本文提出在逻辑的混合式BIST的今后的研究方向并展望了其在集成电路测试中的应用前景.