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目的:1.观察支气管哮喘患儿与正常儿童血铅水平的关系;2.观察支气管哮喘患儿与正常儿童血清IL-4水平的关系;3.观察支气管哮喘患儿与正常儿童血清IgE水平的关系;4.探讨支气管哮喘患儿血铅水平与血清IL-4、IgE水平的关系。方法:选择2008年2月至2009年2月就诊于大连医科大学附属一院儿科门诊及入住病房的45例支气管哮喘患儿与30例正常儿童,采用塞曼效应石墨炉原子吸收光谱法检测血铅的水平,应用放射免疫法及散色比浊法检测血清IL-4、IgE水平,同时计数外周血嗜酸性粒细胞水平,分析血铅水平与血清IL-4、IgE水平在支气管哮喘患儿中的相关性。实验数据经正态性检验后,结果以x|-±s表示。两组间性别构成采用卡方检验,年龄分布采用t检验;组间均数比较,采用t检验;组间关系的相关性采用线性相关分析。P<0.05为有统计学意义。结果:1 .血清铅水平:支气管哮喘组为105.64±30.32ug/L ,对照组为55.42±20.80ug/L,P<0.01。支气管哮喘患儿组血铅水平明显高于对照组。两组患儿在血铅水平上的差异有统计学意义。2 .血清IL-4水平:支气管哮喘组为1.21±0.82ng/ml,对照组为0.48±0.21ng/ml,P<0.01。支气管哮喘患儿组血清IL-4水平明显高于对照组,两组在血清IL-4水平上的差异有统计学意义。3.血清IgE水平:支气管哮喘组为264.53±62.50IU/ml,对照组为83.49±26.72IU/ml,P<0.01。支气管哮喘患儿组血清IgE水平明显高于对照组,两组在血清IgE水平上的差异有统计学意义。4.外周血EOS水平:支气管哮喘组为0.40±0.20×10~9/L,对照组为0.21±0.1×10~9/L,P<0.01。支气管哮喘患儿组血EOS水平明显高于对照组,两组在血EOS水平上的差异有统计学意义。5.血铅水平与血清IL-4之间的相关性呈正相关r=0.469,P<0.001有统计学意义;血铅水平与IgE水平之间的相关性呈正相关r=0.570,P <0.001有统计学意义。结论:1.哮喘患儿存在着免疫功能紊乱,IL-4、IgE及EOS均增高与哮喘的发生和发展有关。其机理与哮喘患儿的T淋巴细胞呈现Th2样因子分泌有关。2.血铅增高可破坏支气管粘膜上皮结构,引起慢性炎症和气道高反应性;同时铅的广泛毒性作用可影响机体防御系统功能,特别是抑制T淋巴细胞的功能,使Th1/Th2细胞功能失衡。在儿童支气管哮喘的发病中,血铅水平的增高可使血清IL-4水平及血清IgE水平的增高,致使儿童支气管哮喘发病率增加,铅污染为哮喘的重要诱发素之一。因此,控制环境污染,降低血铅水平为儿童支气管哮喘预防及辅助治疗提供了新的思路。