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集成电路的发展趋向于高密度、高集成度、小体积、高性能,因此经典的传统测试方法越来越不能适应当下的测试需求,对于数字电路和数模混合电路都是如此。边界扫描技术的出现是为解决大规模集成电路在使用经典测试方法时的局限性问题。从边界扫描技术的诞生到现在,经历了IEEE1149.1、IEEE1149.4、IEEE1149.5、IEEE1149.6和IEEE1149.7标准的制定和完善,已经逐步形成了一套通用的测试体系。在国内外,已经有众多单位投入到了边界扫描技术的研究中去,然而目前仅数字边界扫描技术的应用最为成熟。对基于IEEE1149.4标准的混合电路边界扫描技术,虽有完善的理论体系,但软硬件支撑不足,无法胜任数模混合电路的测试。本文根据这些缺点和不足,针对具有代表性的数模混合芯片AD/DA,基于数字边界扫描测试的特点进行测试系统设计,完成对AD/DA的板级功能测试。主要研究内容包括:1、适合AD/DA测试的扫描链路设计。本文研究的测试系统方案是基于数字边界扫描测试,在对数字链路特点的研究中发现,ADC的并行输出和DAC的并行输入与支持IEEE1149.1标准的边界扫描器件并行I/O口连接时,可以通过TDI移入数据,通过TDO移出数据,因此可以作为AD/DA功能测试的基本连接方法。之后针对AD/DA的特性以及测试中遇到的问题,提出了改进的链路设计方法,使其能够满足多数情况下AD/DA的板级测试。2、适合AD/DA测试的测试向量生成算法。用于AD/DA测试的测试向量(或测试数据)不同于数字电路中用于互联测试的测试向量,它是根据待测器件的电压转换范围生成一系列的电压测试值,通过对比器件实际输出值和期望输出值来达到功能测试的目的。但由于AD/DA器件的精度不同,测试向量的数量可能非常庞大,因此提出了测试向量产生算法,既满足完备性指标,又满足紧凑性指标。该算法借鉴了数字互联测试的经典算法。3、设计并实现用于AD/DA测试的上位机软件。在完成链路的设计和算法的研究之后,搭建了硬件部分用于验证,再结合上位机软件组成了完整的测试系统。软件可以对测试模型进行配置,产生测试向量,回收响应数据并分析,界面上能够显示测试状态和结果信息,同时可以导出测试报告。