向列相液晶挠曲电效应是指具有永久偶极矩的楔形和香蕉形液晶分子在展曲和弯曲形变下产生的挠曲电极化与电场相互作用对液晶分子形变的影响。在液晶盒内，此效应会影响液晶指向矢的分布，必然会对显示效果产生影响，其程度决定于向列相液晶的挠曲电系数。因此，关于向列相液晶挠曲电系数的测量备受关注，提出了不同的测量方法。但是，对于同一种液晶材料，不同方法也给出了不同的测量值，存在着很大的争议。基于此，本文通过挠曲电效应对液晶盒电容影响的理论分析和数值模拟，提出了一种新的确定向列相液晶挠曲电系数的方法—电容法。以向列相液晶盒为模型，在外加电压作用下，液晶的有效介电常数会发生变化，导致液晶盒电容的改变。基于液晶弹性理论和变分原理，理论推导强锚泊平行排列向列相液晶盒（PAN）和混合排列向列相液晶盒（HAN）电容的解析表达式，由Matlab软件数值模拟了两种液晶盒的指向矢分布、电容—电压曲线及电容—挠曲电系数和曲线，分析了挠曲电效应对强锚泊平行排列和混合排列向列相液晶盒电容的影响。对于PAN盒，对应不同的电压、弹性常数、介电常数，电容随挠曲电系数和（从负到正）的变化先增加后减小。弹性常数k33/k11的减小和电压、介电各向异性Δε/的增加，液晶盒电容增大；而HAN盒，电容—挠曲电系数和曲线和PAN盒中的变化趋势是一样的，不同的是变化快慢，而且在挠曲电系数和为0左右出现低点。