在现代微电子设计过程中，随着门电路数目和系统复杂性以指数倍增，功能测试的作用日益变得重要，人们将在测试上投入更多的人力物力。为了保证系统测试的快捷和精确，我们必须改进测试工具，革新测试方法，探讨独立于开发工具和设计过程的测试方法。 本文首先阐述了测试平台的基本概念；归纳了常用的功能测试方法：白箱测试、黑箱测试和灰箱测试，并说明了其不同的应用场合；列举了常用的测试工具：代码静态分析工具、代码检查、仿真器、示波器和代码覆盖；接着讨论了如何在测试计划中分析测试粒度、确定待测特征；阐明了待测特征、测试实例和测试平台之间的结构关系。和TRL代码相比，行为描述代码可以减少代码量和测试的工作量，提高仿真的性能，并更有利于在串行处理器上实现并行结构。并在此基础之上，探讨了在测试平台中如何产生各种激发信号；如何对波形的产生过程进行封装；以及如何解决死锁和异步接口的问题，与此对应，也论述了响应和激发之间的反馈、预测输出结果和响应的检测和激发的产生并行处理等问题。最后研究了如何通过优化结构来提高构件和模型的可再用性；对采用不可再用和可再用结构的测试平台进行了比较，得出了后者更能提高测试效率的结论，并通过实际的编程验证了这个结论；提出了总线功能模型的封装方法；给出了i386SX总线功能模型的结构、代码和调用过程，并在使模型自动激发和监控方面做了初步的尝试。