随着人们对手机等音频设备大音量需求的增加,各大厂商会通过某种算法增大扬声器的音量,这些算法在输出尽可能大音量的同时也会防止扬声器振膜机械损坏及线圈热损坏。为了验证智能功放所使用的振膜保护及线圈温度保护算法的有效性,需要对批量微型扬声器进行寿命测试。现有LTT测试方案不能对测试过程中振膜振幅及线圈温度进行监控,本文提出使用电压-振幅模型对扬声器振幅进行监控,给出了模型的建模及参数计算方法,只需测量扬声器两端电压即可计算振膜振幅;提出使用改进型Goertzel算法计算低频信号幅值进而计算线圈温度的方案;提出了一整套LTT测试流程;对LTT测试系统进行了软硬件设计,按照所提出LTT测试流程进行了相关实验验证和测试。在测试前后,对扬声器进行听音测试,对扬声器阻抗特性,频响特性,THD特性进行记录,结果显示听音结果正常,测试前后阻抗特性,频响特性,THD特性变化不超过10%。并在测试前,使用激光测量振幅与LTT系统计算振幅进行对比,使用温箱设定温度与LTT系统计算线圈温度进行对比,结果显示LTT系统计算振幅误差小于5%,LTT系统线圈计算温度误差小于2%。测试过程中,使用8个同一型号的微型扬声器以及所设计的音源,在25度及55度恒温环境中,分别持续进行72小时振幅保护测试及温度保护测试,使用所设计下位机系统测量扬声器两端电压、电流,上位机软件中通过扬声器的差分方程模型对振幅进行计算,使用改进型Goertzel算法计算扬声器在50hz低频条件下阻抗特性进而得到线圈温度;结果显示,振幅及线圈温度均未超过所设定阈值,说明在输出尽可能大音量时,智能功放可以实现振幅保护和温度保护。结合测试前后测试结果,得出智能功放振幅保护及线圈温度保护算法有效的结论。所提出LTT测试系统,解决了现有LTT测试系统不具备振幅及线圈温度测量功能的问题,并且所提建模和参数计算方法,解决了将扬声器模型应用于计算振幅的困难,降低了批量扬声器振幅监控成本。所提线圈温度测量方法,提高了线圈温度测量的灵活性。整体系统可以满足智能功放对于微型扬声的寿命测试需求。