随着微电子技术的迅速发展和市场竞争日益激烈，人们对集成电路的性能和产品周期的要求越来越高。因此，如何在尽量短的时间内设计一个电路，使其产品性能达到最优化，同时成本最低就是集成电路设计人员目前面临的主要问题。稳健设计(Robust Design)，又称鲁棒性设计，正是对产品性能、质量、成本作综合考虑而获得高质低价的一种有效的现代设计方法。集成电路的稳健设计主要应用于电路产品开发的参数设计阶段，有效地分析设计中包含的不确定性，以便尽早采取措施减小这些不确定因素对产品的影响，从而使产品在成本和质量方面同时达到最佳。 本文首先介绍了稳健设计的基本理论，以及与健设计相关的统计设计技术、响应面法(RSM)和试验设计(DOE)。然后以0.50um CMOS带隙基准电路为例，将稳健设计方法应用到电路的优化设计中。首先，对电路参数进行了统计优化设计，通过Hspice电路仿真确定影响电路设计指标的设计参数；再根据试验设计(DOE)原理选取试验组合；通过仿真获取试验数据；建立电路的响应面模型(RSM)；最后基于这些模型优化确定满足电路设计指标要求的最佳参数组合。试验结果表明，统计优化设计后的电路响应值比优化前有明显的改善，该方法对电路参数优化设计具有一定的指导意义。在统计优化设计的基础上，我们又对电路做了蒙特卡罗分析，将电路优化后的参数值作为电路参数的标称值，使用Hspice里的蒙特卡罗分析功能结合试验设计，确定电路设计指标之一的电源电压抑制比(PSRR)在电路参数波动变化时的Cpk数值。Cpk与成品率有直接的关系，据此可对电路批量生产时的参数设置和容差选择做出指导。