原子力显微镜技术及其在分子结构形态学方面的应用研究

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原子力显微镜自1986年问世以来,经过十多年的技术改进和应用研究,凭借其纳米量级的精度和不受样品表面导电性限制的优势奠定了它作为一种独立的表面分析仪器的地位,促进了纳米科技领域七大分支的高速发展,尤其在生物学、生命科学和材料学方面的应用研究获得了较高的科研价值,为这些原来的瓶颈专业开创了巨大的发展空间。本次论文工作首先简述了原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)的发展历程;从理论上探讨了AFM的工作机理;并针对重庆大学研制的AFM.IPC- 208B型机进行了整机系统的深入了解,其灵敏的反馈回路和纳米量级的进给系统确保了整机稳定的工作状态;本论文课题任务则更侧重于探讨实验操作过程中影响检测结果的重要因素及其在纳米材料学领域的应用,尤其是小分子微观结构的观测研究,对部分已作的微观结构研究进行了较为详尽的叙述和探讨。在论文的最后对实验研究过程中遇到的问题进行了深入的思考,不仅从理论上给予了解释,而且针对仪器本身存在的一些不足提出了自己的改进意见,作为下一步工作的借鉴!
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