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该文介绍了利用盖有一对对称哑铃状孔-缝的圆柱形谐振腔测量介质介电常数、电导率和半导体载流子寿命等参数的研究结果.
用微波方法测量片状介质及半导体材料参数的研究
【摘 要】
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该文介绍了利用盖有一对对称哑铃状孔-缝的圆柱形谐振腔测量介质介电常数、电导率和半导体载流子寿命等参数的研究结果.
【机 构】
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厦门大学
【出 处】
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厦门大学
【发表日期】
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1997年期
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