随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。目前,可测性设计成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种,因此研究基于边界扫描技术的可测性结构具有重要的理论价值和实际意义。　　本文在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,对基于边界扫描的混合信号电路的可测性结构进行了探索;设计并实现了符合标准的混合信号电路边界扫描可测性结构各组成部分,包括TAP控制器、数字边界扫描单元、模拟边界扫描单元、测试总线接口电路及测试寄存器;对所设计的混合信号电路可测性结构用可编程逻辑器件及外部模拟电路进行硬件的具体实现,构建了验证模块 DOT4MBST;同时以DOT4MBST与IEEE1149.4工作组提供的标准验证芯片为核心对同结构的混合信号电路构建了验证电路。最后对验证模块DOT4MBST及验证电路进行了测试验证。　　测试结果表明,所设计的混合信号电路可测性结构是可行的,并可以应用到混合信号电路中提高电路的可测试性。