金属颗粒是GIS中最常见的缺陷,且颗粒在GIS内部自由运动是GIS的一个重大安全隐患,不仅是因为颗粒可以运动到高电场区域内或附着在绝缘子上,而且在运动过程中,颗粒可能对电极产生微弱的放电,该放电可能引起绝缘的完全击穿。为提高GIS内金属颗粒检测的有效性,减少金属颗粒的危害,针对金属颗粒已进行了相对较多研究,目前的研究主要集中在单一颗粒在典型平板下的运动规律及局部放电现象,而缺少在运行电压下实际GIS同轴结构中的金属颗粒运动行为及放电特征的研究,现有的研究成果难以满足实际工程的应用。为此,本文研究了运行电压下实际GIS中不同类型金属颗粒的运动行为、局部放电及危害程度。为了研究颗粒的形状(片状颗粒、线形颗粒、球形颗粒、金属粉尘)、尺寸对颗粒运动行为的影响,本文基于不同形状、尺寸金属颗粒的带电量以及颗粒所受的库仑力的计算,获得了颗粒形状、尺寸对颗粒带电量和所受库仑力的影响规律,提出了在运行电压下不同类型金属颗粒起始跳动的条件,并通过试验研究了不同类型金属颗粒的运动行为。GIS运行电压下平躺的线性颗粒起始跳动条件:铝材质的线形颗粒半径小于0.139mm、铜材质的线形颗粒半径小于0.044mm、银材质的线形颗粒半径小于0.036mm。GIS运行电压下平躺的片状颗粒起始跳动条件:铝材质的片状颗粒厚度小于0.069mm、铜材质的片状颗粒厚度小于0.022mm、银材质的片状颗粒厚度小于0.018mm。GIS运行电压下球形颗粒起始跳动条件:铝材质的球形颗粒半径小于0.175mm、铜材质的球形颗粒半径小于0.052mm、银材质的球形颗粒半径小于0.044mm。金属颗粒的运动行为主要有4种运动状态:静止站立、小幅度跳动、大幅度跳动以及贯穿性跳动。其中片状颗粒和线形颗粒在电场梯度力的作用下向电场较强的屏蔽环处运动,当金属颗粒运动速度较慢且靠近绝缘子时,会静止的附着在绝缘子上,而球形颗粒/金属粉尘则倾向于向电场较弱的区域运动而难以附着在绝缘子上。为了研究颗粒的数量对金属颗粒运动行为的影响,本文试验研究了高压母线下不同数量的金属颗粒的运动行为,获得了颗粒数量对不同形状金属颗粒起举电压的影响规律。线形颗粒的存在会造成电场的畸变,使得相邻线形颗粒在相对较低的电压下起举站立,随着相邻线形颗粒数量的增加,线形颗粒的起举电压呈下降趋势,而颗粒的数量对球形颗粒的起举电压则几乎无影响。为了研究颗粒端部曲率半径的大小对颗粒运动行为的影响,本文对比分析了不同尖端曲率半径的线形颗粒的运动行为,并揭示了颗粒端部对颗粒运动行为产生影响的原因。端部无电晕金属颗粒随着外施电压的升高,其运动行为主要经历4种运动状态:静止站立、小幅度跳动、大幅度跳动以及贯穿性跳动。而端部有电晕金属颗粒,在起举电压下,曲率半径较小端部率先站立,随着外施电压的升高,金属颗粒仍进行小幅度跳动,不会出现大幅度跳动或贯穿性跳动,但颗粒端部旋转摆动幅度变大。研究了冲击外力对金属颗粒运动行为的影响,揭示了断路器等开关动作引起GIS腔体的振动对颗粒运动行为产生影响的原因。在冲击振动的作用下,线形颗粒出现一端向上偏转,另一端与地电极接触的状态,导致线形颗粒带电量急剧增加,线形颗粒在库仑力的作用下一直向上偏转,直至颗粒垂直站立,冲击外力的作用使得无害颗粒变为有害颗粒。以不同类型金属颗粒的运动行为为基础,获得了不同运动状态下金属颗粒的局部放电特征,建立了金属颗粒运动行为与局部放电的关系。在运行电压下不同类型金属颗粒的带电量的不同、跳动速度、跳动频率、跳动高度的差别造成颗粒放电量、放电脉冲簇宽度、放电脉冲个数的差异,金属颗粒的数量会造成半个工频周期内最大超声个数的差异,颗粒端部的曲率半径会造成放电脉冲信号相位相关性的差异。通过以上放电特征的分析可以判断出不同类型颗粒的运动行为。研究了不同类型金属颗粒(不同形状、不同数量、不同尺寸)运动到GIS腔体不同位置(高压母线、屏蔽环、绝缘子)时的击穿,获得了运行电压下有害颗粒的类型。研究结果表明:金属颗粒的贯穿性跳动与否和颗粒引发GIS的击穿没有必然的关系,在高压母线及屏蔽环下的单个线形颗粒和片状颗粒的自由跳动对GIS的危害性相对较小,而当线形颗粒和片状颗粒较多时,其危害性大大增加。当线形/片状颗粒附着在绝缘子上时,颗粒的沿面放电引起了绝缘子的劣化,对GIS的危害性较大。而在运行电压下由于自由运动的金属粉尘和球形颗粒向远离绝缘子处的电场较弱区域聚集,因此数量较少的金属粉尘和球形颗粒对GIS绝缘危害性较小(电压升至运行电压的两倍仍未击穿)。建立了金属颗粒运动行为、局部放电和危害程度间的关系,实现通过局部放电获得金属颗粒形状、尺寸、数量的估算,提出了金属颗粒危害程度的诊断方法。