在现代的工业运用中,涂层的使用范围广泛,而且涂层类型也朝着多样化发展。涂层的厚度不仅仅影响工件的性能,对工件的耐久性也有大的影响,因此涂层测厚的研究被赋予越来越多的期望和任务。本文以测量不同基体上的非磁性涂层的厚度为目标,以无损检测为目的,以方便使用和实现微米级精度测量为追求,提出两种利用霍尔效应芯片测量磁场的方法间接测得涂层厚度的构想方案。两种方法分别适用于磁性基体表面上非磁性涂层和非磁性基体上非磁性涂层。其中,测量磁性基体表面上非磁性涂层是通过控制永久磁铁在一定距离下磁化磁性基体,测量磁性基体附近的磁场变化量来实现;测量非磁性基体表面上非磁性涂层是通过测量交变线圈的磁场受非磁性基体感应涡流影响时的变化量来实现。本文运用理论分析和建模仿真的方法来论证测量方案的可行性,并根据两种所提出的测量方案设计制作不同类型的探头。文中对不同类型探头的结构、关键参数的设计进行说明。同时,本文还研制一套适用于永磁法的测量系统,系统的硬件和软件在文中有详细的说明。本文使用不同类型的探头分别进行了测量实验。其中,永磁测厚的实验较为顺利完成,将实验数据通过最小二乘法和分段拟合法得到了磁感应强度与厚度的函数关系。电涡流测厚的实验没能达到预期效果。文中对实验过程、实验结果及其原因做了详细分析,对后续研究提出了新方向。