散斑干涉测量技术不仅能进行全场测量，更具有非接触、精度和灵敏度高等特点，这使得该技术在生产和研究当中获得了广泛应用。另一方面，电子技术、计算机技术、激光技术的飞速发展，极大促进了散斑测量技术的发展，也使得这一技术正朝着实时、高速自动化方向发展。　　在有关散斑测量技术的诸多实际应用中，一项非常重要的用途就是用于测量物体的变形场。近二十年来，电子散斑干涉技术(ESPI)的确业已成为变形场测量的重要方法。很多情况下，被测物理量与光学位相直接相关。而电子散斑干涉术也是利用条纹分析实现变形场的无损测量的。若干种成熟的相位测量技术已应用于条纹分析中。迄今已有一系列有效的位相测量方法，如外差法、时间相移法、空间相移法、载波条纹图的Fourier变换法和载波空间相移法等。　　本文首先对散斑干涉技术做了简单的介绍，然后对各种位相测量方法做了文献综述。最后提出了两项新的关于变形测量的技术。具体如下:　　1、基于大剪切方棱镜的三维电子散斑干涉技术　　提出了一项利用自制的大剪切方棱镜，进行物体的三维变形位移场的测量新技术。介绍了该技术的原理、剪切特点以及相对于传统的基于渥拉斯顿棱镜的剪切技术不同之处。　　2、电子散斑干涉的载波调制与三维变形测量技术　　将干涉条纹的空间调制技术引入大剪切电子散斑干涉技术中，通过对参考物体的偏转实现了条纹调制，得到了高质量的调制条纹，并进行了条纹分析；另外结合利用傅里叶变换方法对调制条纹进行解调，得到了变形物体的三维位移场。