2011年国际半导体技术发展蓝图报告指出，芯片设计制造业已经进入了“后摩尔”时代。芯片集成的功能越来越复杂，对芯片功能进行完备性验证的难度也越来越大。功能覆盖率作为功能验证的完备性指标，它的重要性不言而喻。人们对功能覆盖率测试技术的研究也从未停止。无论从验证方法学还是到随机激励的生成，人们都研究得出了各种成果，也有其特殊的适用范围。但是对判断条件较多的总线协议类芯片，还没有较快捷的测试方法。本文针对协议芯片的特点，提出一种随机激励生成方法。采用该方法，能够提高这类芯片仿真测试过程中功能覆盖率的收敛速度，而且不需要编写随机激励的约束文件，在很大程度上提高了验证的效率。本文进行的研究分析，主要包括以下几方面：第一，对基于的设计——航空总线协议芯片进行结构分析，特别是芯片的内存实现架构、控制寄存器配置方式和命令帧的特点。通过对该芯片的分析提取验证时需要随机化的关键信息。根据芯片的规格要求制定验证策略，并设置需要测试的功能。第二，根据总线协议类芯片对工作模式的判断较多的特点，分析代码中的各种条件判断语句，对各种条件的执行结果的发生概率进行分析总结。在此基础上研究芯片功能测试中设定的功能点在代码中的逻辑深度与测试向量覆盖到功能点多少之间的关系。根据研究结果，提出了一种功能点权重的设置方法和测试激励适应度的计算方法。然后结合遗传算法提出了一种新的功能覆盖率驱动的随机激励生成方法。第三，根据航空总线协议芯片的验证策略搭建VMM验证平台，并在该平台上实现业界普遍使用的基于约束的随机激励生成的功能测试和前文提到的基于遗传算法的随机激励生成的功能测试。第四，对两种随机激励生成方法进行功能验证，分析不同测试激励下芯片功能覆盖率的验证效率和验证的全面性。并对前文提出的随机激励生成方法在总线协议类芯片的功能覆盖率验证过程中起的作用进行分析说明，并得出相应结论。