在锅炉及供水管道中,结垢问题一直困扰着人们。因为系统一旦结垢,不仅造成巨大的经济损失,还潜伏着极大的安全隐患。目前,人们已经开发并试验比较了多种除垢防垢方法,发现高压静电场是一种对防垢除垢比较适用的物理方法。与其它方法相比,它有很多优点。但是,目前人们对高压电场防垢除垢机理的认识尚不成熟,且宏观实验研究较多、规律不明显,而微观机理研究开展较少。因此为了从微观上更深入地研究高压电场防垢除垢机理,为其实际应用提供理论支持,本文通过用分子动力学方法模拟受高压电场影响的硫酸钙水溶液体系,来研究硫酸钙晶体的生成过程。计算结果表明:①电场能破坏水分子的氢键,导致单个水分子数增多,活性增大,水分子扩散系数增大,阻碍溶液中的离子成键。尤其是1200V/m的电场作用效果最为显著;②电场能减小溶液中Ca2+和SO42-的扩散系数,增大Ca2+和SO42-之间的距离,故电场能减小Ca2+和SO42-发生结合反应的机会;③电场能显著降低离子与硫酸钙(001)晶面间的结合能,所以它有很好的阻碍晶面上新晶生长的作用;④电场作用下,晶面上的Ca2+与溶液中水分子的O原子极易形成离子键,促使硫酸钙晶体溶解为阴阳离子而溶于水中;⑤电场对系统中水分子第三近邻的氧氧和氢氢相互作用比未加电场时明显,但对氧氢作用破坏较大,使单个水分子增多,扩散增强,减小Ca2+和SO42-发生结合反应的机会。