为了对红外制导系统抗干扰性能进行客观、定量评价,本文根据红外制导系统的抗干扰原理和工作过程,把红外制导系统的抗干扰性能划分为探测能力、抗干扰能力和再次截获能力三个方面,其中探测能力取决于传感器参数和目标背景辐射特性,抗干扰能力取决于抗干扰识别能力和抗干扰跟踪能力,再次截获能力取决于搜索检测性能和弹目位置信息,最终得到十九个指标作为红外制导系统抗干扰性能评估指标体系,并针对应用背景,基于层次分析法建立了相应的抗干扰评估模型。针对传统层次分析法中判断矩阵的确定采用专家评估方法存在主观性强,权值设定随意性大的问题,对判断权值客观化确定方法进行了研究,针对可模型化指标和非可模型化指标,分别提出了基于理论分析计算和基于多因素多水平试验的判断矩阵确定方法。在基于理论分析确定判断矩阵权值的方法中,通过建立如传感器参数、目标背景辐射特性、搜索检测性能和弹目位置信息等可模型化参数与目标检测性能指标之间理论解析计算模型,求出各个考察因素同等增长率下的目标发现能力曲线,根据曲线图计算出各个因素对目标发现能力的平均影响水平,平均影响水平的比值表示两因素相对重要性大小,据此建立判断矩阵。在基于多因素多水平试验的判断矩阵权重确定方法中,分别对抗干扰识别能力和抗干扰跟踪能力等非可模型化指标的影响因素进行分析,获得检测性能随各因素变化的趋势,再利用单因素试验进行有针对性的仿真分析,利用直线拟合求出单因素影响目标检测率曲线的变化速度,根据变化速度建立起判断矩阵。最后,计算出最底层指标对红外制导系统抗干扰性能的影响大小,该评估结果与理论常识中的各个指标对红外制导系统抗干扰性能的影响相一致,从而可以更好地指导红外制导系统的设计,提高其抗干扰能力。