LED(发光二极管)作为第三代半导体光电器件以其独特的优势得到了世界各国的广泛关注。发达国家研制和生产了多种LED光电参数测试仪,并形成了一定特色。国内研发的测试仪测试速度慢,人机界面不友好。我国大部分测试仪依赖进口,成本高,对行业发展不利。本课题在分析已有测试方法和方案的基础上,提出了一套基于模式匹配算法的LED测试方案。　　本文首先介绍了LED的发展现状和国内外测试水平,并论述了LED各参数的测试方法和原理。在此基础上,研究分析了常见模式匹配算法,结合模式匹配算法的特点和本课题实际测试需求,给出了一种新型的适合单片机系统的LED模式匹配算法,实现了LED类型的自动识别;同时设计制作了新颖的高精度数控恒流源和数控恒压源,构建了大电流高电压开关阵列,完成了样机设计。最后对关键模块进行了实际验证分析,与深圳科信超声焊接设备有限公司生产的HKD-2050A型数码管测试仪进行了实际测试对比分析。　　样机经过LED生产厂家试用验证,结果表明该仪器在测试精度、重复性、可靠性和测试效率上都满足客户要求。仪器操作简便、性价比高,达到了实用化的要求,具有一定的推广价值,对后续研究工作具有借鉴意义。