随着电子科学技术的飞速发展,超大规模集成电路(VLSI)芯片越来越多的被应用于各种电子产品中。这种电路芯片诸如Altera公司的大多数的FPGA和CPLD芯片、TI公司的DSP芯片以及Atmel公司的一些AVR芯片等,它们的一个共同特点是体积小,引脚多而密集,使得常规的探针测试方法难以进行。IEEE1149.1边界扫描测试标准为这种电路芯片提供了一个统一的测试标准,使得它们及所在电路板具有较好的电路可测性。　　 边界扫描测试系统一般包括边界扫描测试软件控制平台、边界扫描测试卡以及被测电路板。本文主要负责的是边界扫描测试软件的设计开发以及一个被测电路板的设计。通过对被测板的测试实验,给出了对互连测试过程以及簇测试过程的测试建议:尽量在互连网络的两端分别做输出操作,这样可以提高对故障的分辨能力,达到更好的测试效果。　　 本文的主要研究工作是边界扫描测试软件的设计和实现,一个例子被测电路板的设计,以及测试控制策略的研究。具体的研究工作内容主要有以下几点:(1)边界扫描测试理论的深入讨论；(2)完备性测试、互连测试、簇测试的测试过程实现；(3)故障诊断方法的研究；(4)边界扫描测试系统的上位机软件的实现；(5)一个例子被测电路板的设计；(6)测试软件和被测电路板的调试；(7)被测板的边界扫描测试实验。　　 经过进行相关的一些测试实验,本文设计的边界扫描测试系统上位机软件在互连测试和簇测试等方面实现了多种测试算法,能够完成电路板的完备性测试、互连测试以及簇测试,对故障诊断比较准确。