论文部分内容阅读
电磁继电器是一种最常见的低压电器产品,广泛地应用在国防军事与工业自动化等领域中,其可靠性直接影响到整个系统的可靠性水平。本文所研究的产品为航天用密封式电磁继电器,其贮存时间远远大于使用时间,所以更关心它在贮存阶段的可靠性。研究这种可靠性,一般采用加速寿命试验的方法。 为了有效缩短试验时间,以便在较短的时间内对产品的贮存寿命进行推断及预测,这就需要运用适当的数据处理方法对有限的试验数据进行分析,以期用来帮助推算产品的实际贮存寿命。 本文采用一元线性回