纳米晶体的表面态对材料的光电性质有重要的影响,其中一个重要过程就是表面对载流子的俘获作用。载流子动力学通常采用时间分辨光致荧光谱和瞬态吸收谱来间接测得,这些方法是基于载流子带边激发态的退布居过程。由于载流子俘获过程以及辐射和非辐射复合过程均对带边激发态退布居过程有贡献,因此只能在低激发功率下结合多种探测技术才能解析出空穴俘获过程。本文提出了一种直接探测纳米晶体表面空穴俘获过程的新技术：泵浦-自旋极化-探测技术。泵浦光产生电子-空穴对,空穴表面俘获过程将被激发的电子-空穴对空间上分离,使核上带有负电,因此增强了自旋极化脉冲产生的电子自旋信号。自旋增强瞬态信号与泵浦-自旋极化光延迟时间的函数关系反映了一个快俘获过程和一个慢俘获过程,俘获时间分别为～10ps和～100ps。这种新技术在较高激发功率下也可获得空穴俘获的动力学过程。空穴俘获动力学的功率依赖体现了空穴表面俘获饱和过程和俘获点的相对数目,表明空穴表面俘获点有三种纳米颗粒分布：一种仅对应快俘获过程,另一种仅对应慢俘获过程,而第三种则同时包括快慢两个俘获过程。