CCD作为半导体器件的一种,可以完成光学影像到数字信号的转化,英文全称:Charge-coupled Device,中文全称:电荷耦合器件。CCD在天文学、数码摄影,特别是光学与频谱望远镜、光学遥测技术和高速摄影技术等应用广泛;CCD显著特点是具有小功耗、小体积、轻重量、长寿命、低噪声、性能稳定、抗冲击与震动、高灵敏度、低工作电压、大动态范围、快响应速度等。CCD是现代国防武器装备获取信息的关键部件,是卫星的眼睛,在卫星定位、资源探测、导弹寻的、卫星侦察、微光夜视和天文观测等系统中得到广泛应用,在推动装备的发展,提高装备系统的性能和水平等方面发挥着十分重要的作用。CCD性能的优劣直接影响了装备系统的最终性能。CCD在工艺制作中出现问题,会严重影响CCD的性能,CCD失效。常见的失效模式有:饱和输出电压低、转移效率差和暗电流大等。为避免研制出的CCD器件失效,在CCD的研制初期,采用简单可行的测试方法,准确的测试出放大器的输入输出曲线和增益曲线,获得CCD的直流输出电压、增益最大值和工作的线性区等性能参数,用于CCD工艺状态的监控和改善,是非常必要的。本论文正是针对上述问题,以高性能CCD源跟随放大器为主要的研究对象,在深入分析当今CCD工艺制作技术和CCD工作原理的基础上,对CCD源跟随放大器的测试方法进行了详尽的讨论和研究,依据其他种类放大器测试方法分析思路和国外对CCD源跟随放大器测试方法的研究,提出了一种适合CCD源跟随放大器的测试方法,该方法能准确的测试出放大器的输入输出曲线和增益曲线,获得CCD的直流输出电压、增益最大值和工作的线性区等性能参数,实现CCD源跟随放大器的测试。