随着现代计算机技术和半导体技术的快速发展,对内存芯片的读写速度和容量要求也随之上升,DDR SDRAM是当代内存芯片的主要表现形式,其传输速率已经达到3200兆比特每秒。由于DDR SDRAM存储系统信号密度高、存储容量大、读写速度快等特点,在设计内存系统的印刷电路板时,设计者一定会面临反射、振铃、串扰、时序不足等一系列信号完整性问题,DDR SDRAM系统设计的成功与否,很大程度上取决于信号完整性设计的好坏。在早期设计工作中加入信号完整性仿真流程,是避免高速信号完整性问题的最有效的解决方案之一。本论文主要研究DDR SDRAM内存系统的信号完整性相关问题,结合实际的应用,通过仿真,优化设计,给出设计规则和布局布线优化方案。具体实现为一个现场可编程阵列控制芯片驱动九片DDR4内存芯片的实际案例,主要的工作内容包括IBIS仿真模型的验证和二次开发、模型的仿真对比验证、原理图设计与优化、走线拓扑仿真、设计规则优化、印刷电路板版图设计以及仿真结果与测试结果的对比验证。通过DDR4 SDRAM系统实际仿真项目的成功实施,并且仿真结果与实际测试结果匹配,有效地证明了基于IBIS模型对DDR SDRAM系统进行信号完整性仿真的方法,能提前预知整个系统通道的性能,有针对性地对印刷电路板的布局布线方案做出调整,将相应的高速信号传输误码率高的问题解决在设计之初,提升产品性能和质量。