随着企业管理水平和产品质量的提高,低不合格率过程的质量控制越发显得重要。在低不合格率过程中,如何应用高效而准确的控制图进行产品的在线质量控制,保证生产过程的稳定,以及改善产品过程,就成了企业和研究者亟待解决的问题。控制产品不合格品率的传统控制图p图,np图,由于所需样本量过大、不能检测过程的改善以及反馈延迟等原因而受到了很大限制。为了解决传统计数值控制图在低不合格品率过程应用中的不足,本文对以连续合格品数为控制对象的几种控制图包括几何控制图、负二项分布控制图、几何CUSUM控制图、几何EWMA控制图进行了研究介绍和综合评价。首先以几何控制图作为代表,进行了细致的文献研究。对其基本设置和应用中的问题进行了介绍和分析。然后详细介绍了几何CUSUM控制图、几何EWMA控制图的基础设置与应用,对其评价指标ARL的计算等进行了文献研究,进行了大量的数值分析和计算机模拟计算,并且在此基础上对于两者的实际应用给出了建议。最后,以平均检测产品数(ANI)作为统一的评价指标,对不合格品数控制图,几何控制图、负二项分布控制图、几何CUSUM控制图、几何EWMA控制图在不同的不合格率水平下的效率作了综合比较,分析结果有助于针对不同的过程不合格品率的偏移,选择最合适的控制图。