本论文的研究内容是国家“863”资助项目“用于彩屏手机的液晶显示驱动控制电路芯片开发”的一部分。作者以该芯片的测试和测试电路设计工作为基础，结合现代集成电路测试和可测试设计理论，并考虑到工程应用中的可实现性和可操作性，为该类型芯片的测试评价提出了一套高效率、低成本的测试解决方案。论文的主要工作如下： ·针对TFT-LCD驱动控制芯片的异步接口和控制逻辑采用了一种异步逻辑同步化的处理方法。同步化后的异步电路测试时可以引进常规的扫描测试技术，并能直接使用商业化的ATPG工具进行测试生成，从而保证测试质量和效率。 ·针对TFT-LCD驱动控制芯片内置图形SRAM特殊的测试需求，采用了一种移位存储器的可测试设计策略，结合逻辑电路中的BIST控制器设计，可以实现测试过程中芯片的内置逻辑电路和ATE设备负载均衡。 ·针对内置电源电路的特殊性采用了一种电源电路专用测试方法，该方法将电源电路本身的测试和芯片整体测试分开，使得芯片在大规模量产测试时能采用统一的标准，保证了量产时的测试效率。 ·针对显示驱动电路特殊的测试需求，选取了一套合理的测试评价指标，利用该指标体系对显示驱动电路进行评价，既可以保证测试质量，又能提高测试效率。 ·对目前工业界具有代表性的ATE供应商—Advantest公司的LCD测试系统进行了介绍，并在该测试系统上完成了龙腾“T1”芯片的测试评价工作。 本文中提到的技术和方法已被应用于龙腾“T1”的工程测试实践中，通过将Wafer测试结果和模组测试结果进行比较，说明本文中所提到的测试方案和测试技术在实际应用过程中能够保证较低的失效率。