随着设计规模的不断增加,芯片的平均设计门数已经超越百万门级,验证已经成为设计流程中的主要制约瓶颈之一。目前,凭借其简单的操作以及直观、高效的特性,基于CDV(coverage driver verification)的验证方法越来越受到验证工程师的青睐。本文基于功能覆盖率验证的方法,结合公司的研发项目,对一款光传送网(OTN)芯片开展了验证研究。该芯片业务时钟为155M,采用IBM的90nm CMOS工艺,规模为三千万门左右,主要处理客户业务向OTU1的映射、解映射,同时进行业务开销的提取监视和插入等工作。为了验证该芯片,本文搭建了一个高效的自动化系统,该系统能够提供接口,从抽象层次产生基于约束的激励,支持设计的时序行为验证和基于断言的功能覆盖率的验证。基于该系统,本文对客户到波分侧逻辑进行了功能覆盖率分析,完成了对功能点的100%覆盖。结合验证实践,详尽讨论了验证中的一些重要环节,并总结出一套比较完善的基于功能覆盖率的验证流程,按照这一流程可以对实际芯片的验证工作提供有益的借鉴。文中涉及的工作对百万门级专用集成电路成功实践,不仅是对基于功能覆盖率验证理论的证实,并且从验证的思路和方法上对后续芯片有一定的借鉴作用。