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工业CT技术,即工业计算机断层成像技术,因为其能准确、清晰的显示被测物体的内部结构,被誉为当今工业界最佳的无损检测技术。随着科技的进步和检测精度要求的提高,对工业CT探测采集系统采集到的图像质量要求越来越高。探测采集系统的作用是探测穿过被测物体的射线信号,并将射线信号转换为数字信号,然后再上传给上位计算机供图像重建使用,是CT设备关键部分之一。探测采集系统的性能将直接影响到整个工业CT系统的图像质量。目前国内工业CT探测采集系统精度主要集中在16,18,20位,随着检测技术的发展,更加要求能够精确地检测和记录微弱信号以及一些复杂信号,对探测采集系统的精度有了更高的要求,对探测采集系统采集到的图像清晰度和细节要求更高。针对以上的需求,本课题致力于研制高动态范围的24位工业CT探测采集系统,能更好的满足工业CT系统对探测数据采集系统高动态范围的要求,有很好的发展前景。对此,论文主要从提高探测采集精度,提高图像质量方面研制出了24位探测采集系统,首先,论文对探测采集系统进行了需求分析,并通过不同的设计方案进行对比以确定系统最终的总体设计方案;然后,分别从硬件和软件两方面进行设计,课题针对应用直线加速器射线源的高能工业CT设备进行研制,选用中心已有的高能探测模块,该模块由线性半导体光电二极管阵列(LDA)加CdWO4闪烁体构成,AD转换芯片主要选用能够达到24位高分辨率的Σ-Δ型ADC;最后对所设计的系统进行性能测试和结果分析。在最终的调试阶段,首先采用Altera公司的嵌入式逻辑分析仪SignalTap II对系统进行调试和分析,然后采用工业CT探测采集系统内部测试软件进行硬件调试分析。系统最终调试结果表明,系统动态范围满足要求,达到了探测采集系统要求,达到预期目标。