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随着电子工业的飞速发展，大规模和超大规模集成电路的大量运用，电子器件都向着高速、高集成、微功耗方向发展，这样便使得集成电路内的绝缘层变得越来越薄，连线与连线之间的距离变得越来越短，大大的降低了电子器件敏感度。静电放电是一个有时会产生高电压、强电场、瞬时大电流脉冲的过程，它能够以传导和辐射的方式对电子设备造成干扰，因而静电放电对电子设备的影响变得越来越严重，静电放电防护问题也越来越被人们所关注。本文从理论和实验两方面着手，分析讨论了静电放电与电子设备屏蔽体的能量耦合情况，确定了静电放