印刷缺陷在线检测算法及DSP实现

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随着社会的发展和进步,人们对于印品质量的关注越来越高。如何在提高生产效率的同时保证印品质量是印刷行业面临的一个难题。因此,对于高水平的印品质量检测解决方案具有极大的需求。国外印品检测行业发展很早,其印品质量检测方案已经逐渐成熟,但其具有价格昂贵、维修不便利、技术垄断的问题。我们必须解决长期依附于国外产品的现状。2000年后,国内的检测设备已初步发展,但其解决方案仍不成熟,我们亟需自主开发出高水平的印刷缺陷的检测平台。基于印刷领域对于高水平印品质量检测解决方案的需求,本课题展开对印刷缺陷在线检测的研究。在课题组前人研究成果的基础上,为了进一步提高印品的检测速度,课题主要进行以下研究。即针对印刷领域的检测基本方法进行了研究与分析,以求设计出在保证检测精度条件下检测耗时短的印刷缺陷检测算法,结合模拟实验平台,利用PC处理器和嵌入式DSP芯片等不同处理器进行印刷缺陷的模拟实验,达到推进工程应用进程的目的。课题针对印刷缺陷检测领域基本检测方法进行研究与分析,缺陷检测算法由配准算法和检测算法组成,即为分别研究与分析了基本的配准算法和基本的检测算法。其中,针对配准算法部分,研究了其基于灰度信息和变换域信息及基于特征的基本匹配方法;针对检测理论部分,研究了基于像素、逐层检测及区域投影等经典缺陷基本检测方法。对于上述基础方法进行深入研究后,结合课题实际需求设计出了以模版匹配为理论基础的改进的指定区域双模版配准算法和以逐像素方法为基础的改进的正反区域差影检测算法。结合由图像采集模块、机械装置、电机控制模块组成的简易模拟实验平台,基于PC处理器,模拟平板印刷,进行大量的印刷缺陷检测实验,验证算法可行性;通过对实验结果的分析,验证算法的有效性。为了进一步推进工程应用的进程,进行了以DSP为处理器的印刷缺陷检测的研究。选用了合众达公司的DVS6446开发板及配套Seed560USBplus仿真器件对缺陷检测算法进行开发和基本检测功能实现。
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