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随着电力电子技术的不断发展,由高速数字印刷电路的应用引起的大量辐射电磁干扰问题在现实中不断出现且尚未得到很好解决,而电磁兼容标准中所规定的辐射发射和测量装置主要为开阔场(OAT)和电波暗室对于一般的民用产品较难实现;另一方面,成本相对较低的吉赫兹横电磁波(GTEM)小室大都用于电磁抗扰度(EMS)测试,针对电磁干扰(EMI)的测量尚在研究之中,并且还存在计算精度不高、实现复杂等问题。针对上述问题,本文开展了“用于辐射电磁干扰测量的吉赫兹横电磁波(GTEM)小室测量与校准方法研究”,包括以下三