在工业生产过程中,测试是必不可少的重要环节,缩短测试周期就意味着提高产能。然而缩短测试周期和保证测试质量常常又是相互矛盾的。本文以电子产品的测试为例,对于既要保证产品测试准确度又要缩短测试周期的矛盾,提出了相应的解决方案。论文针对电子产品生产测试的特点,应用数据挖掘技术,统计控制技术和抽样理论,设计了基于统计技术的动态抽样测试方法,并加以实践。通过数据挖掘技术对数据进行分析总结,实现了抽样参数的选取并由此构建了相应的数据库;通过统计控制方法确立了抽样的条件即CP、CPK的计算;针对生产测试动态样本的特点采用了多层次不同比例的抽样方法。设计中加入了异样报警的风险控制方法以提高抽样的风险控制能力。针对研究中出现的其它问题采用了相应的解决方法如分立的数据上传和漏斗比等,使设计得以在实际的测试系统上实现,并通过大量的数据,将动态抽样测试方法与传统全检方法进行了比较以验证方案的有效性。试验结果表明,新的动态抽样测试系统可以较好地控制风险、保证测试质量,同时有效地缩短测试周期。在一定的控制条件下,可以成功地应用于电子产品的大量生产测试,为这一领域的工程技术人员提供了缩短测试周期新的解决方案。在我国电子产品生产起步发展的今天,为更好地节约成本,提高产能,增强产品竞争力起到了积极的作用,为抽样方法的更广泛应用做了积极的尝试。