裂解炉管内壁结焦是影响乙烯裂解效率的重要因素，而采用低氧分压方法在炉管(FeCrNi合金)内壁形成氧化膜能有效的抑制结焦与渗碳。然而，目前氧化膜的常规表征方法尚缺乏对氧化膜的全面与深入认知。本论文采用电化学技术与微观表征技术相结合，研究了氧化工艺参数和表面状态对HK40合金表面低氧分压氧化膜的形貌、成分及电化学行为的影响。　　研究了HK40合金表面低氧分压氧化膜的形貌成分。发现氧化膜由MnCr2O4尖晶石层、Cr203层和Si02层组成。随氧化时间延长、表面变形量增大、氧化温度和露点升高，氧化膜增厚，表面逐渐富集片状氧化物，SiO2颗粒数量逐渐增多且尺寸增大，并从氧化膜，基体界面深入基体。　　极化曲线分析结果表明，随氧化温度、露点升高和氧化时间延长，氧化膜对基体保护作用增强，但当露点升至15℃时，氧化膜对基体保护作用显著下降；砂纸打磨试样的氧化膜对基体保护作用最好，喷砂试样表面氧化膜对基体保护作用最差。　　电化学阻抗(EIS)分析结果表明，氧化膜的EIS曲线具有两个时间常数，表现双容抗特性。计算得出高频容抗弧代表Cr2O3层，低频代表MnCr2O4层。Cr2O3层的厚度远大于MnCr2O4层，但缺陷较多。随氧化时间延长、表面变形量增大、氧化温度和露点升高，Cr2O3层增厚，电阻呈增大的趋势；MnCr2O4层的厚度和电阻均呈增大的趋势。氧化初期以Cr2O3生长为主，氧化后期以MnCr2O4生长为主。