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目的研究不同包埋材料对全口义齿蜡型包埋前后的形变影响。方法先用标准硅橡胶阴模灌注出下颌无牙颌石膏模型，在其之上用复合树脂人工牙及红蜡片排出下颌总义齿。用记号笔及刻刀十字交叉标绘出四个标记点，其中三个在人工牙上，一个位于石膏模型基座上，分别为左侧下颌第二磨牙远中舌尖顶（A）、右侧下颌第二磨牙远中舌尖顶（B）、下颌右中切牙切端中点（C）、石膏模型基座后缘线中点，即磨牙后垫中1/2连线与下颌中线交点(O)。采用电子游标卡尺（精度0.01mm）分别测量OA、OC、AC、AB四点距离，每个长度测3次，取均值减少误差。将标绘好的模型随机分为三组，每组8个。采用普通白石膏、超硬石膏、超硬石膏+硅橡胶三种不同包埋材料,分别包埋，记作组一、组二、组三。其中组一型盒内均为普通白石膏包埋，组二型盒内均为超硬石膏包埋，组三下层型盒为超硬石膏包埋，石膏固化后暴露的蜡型部分先用技工用硅橡胶（10min硬度为80±2shore-A）薄薄包埋一层（平均厚度约为1～2mm），外表面保持粗糙，待硬化后填入超硬石膏直至上层型盒完全充满。后续步骤冲蜡，填胶，热处理保持相同实验条件及材料。待自然冷却后重新测量四个标记点间的距离，记作OA’、OC’、AC’、AB’，每个长度测3次，取均值减少误差。比较OA’与OA、OC’与OC、AC’与AC、AB’与AB的变量均数并观察义齿表面光滑度。使用SPSS19.0软件进行数据分析，进行统计分析。结果组一对标记点形变量的改变最大，平均值在175μm~267μm之间，组二与组三标记点形改变量略小，AB间距离（F=3.768，P=0.040）及总均数（F=4.830，P=0.019）的改变量在三种材料间差异有统计学意义，两两比较显示，组一AB间距离及总均数的改变量均大于组二和组三，但组二与组三间差异均无统计学意义。三组间光滑度（χ~2=17.575，P<0.001）差异具有统计学意义。组间两两比较显示，组三的光滑度最好，组二次之，组一最差。结论普通白石膏组在包埋形变上最大且表面光滑度最差，超硬石膏组包埋的形变最小，而超硬石膏+技工用硅橡胶联合包埋组的形变与单纯超硬石膏包埋组接近且表面光滑度最好。