随着SOC(System On a Chip,片上系统)技术的迅速发展,越来越多的ESRAM(Embedded SRAM,嵌入式静态随机存储器)内核被集成到芯片中。这些 ESRAM内核的端口数量、地址宽度、数据宽度、工作频率以及读写控制方式往往都不相同,并且它们通常分散在芯片的各个位置。　　在对分散的 ESRAM簇进行测试时,每个 ESRAM内核都专用 BIST(Built-In Self-Test,内建自测试)结构的测试方案存在硬件开销大、测试调度复杂等缺点。March测试算法由于其算法复杂度低、故障覆盖率高而成为当前存储器测试的常用算法。本文在详细研究多端口ESRAM故障模型、March测试算法和ESRAM簇不同组合的基础上,讨论了能够提高测试效率的测试调度方案,设计了一种共享控制器的ESRAM簇BIST结构。这种BIST结构能够对上述不同类型的ESRAM簇进行有效的测试和诊断。实验数据表明该BIST结构与专用BIST结构相比硬件开销明显降低。　　根据这种ESRAM簇BIST结构,设计了一个ESRAM簇BIST自动生成系统。该自动生成系统可以根据用户定义的ESRAM簇和March测试算法,自动编译生成其所需的BIST项目。　　验证结果表明:这种ESRAM簇BIST自动生成系统基本达到实用化的程度,对国内存储器 DFT(Design for Testability,可测性设计) EDA(Electronic Design Automatic,电子设计自动化)领域的发展具有积极意义。