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微结构运动特性不仅可用于评价MEMS器件性能,而且也可用于分析微结构材料特性和机械力学特性等与MEMS可靠性相关的参数,因此微结构运动测试技术已成为MEMS测试技术的重要组成部分。由于MEMS器件中微结构的运动频率较高,频闪成像法得到了广泛的应用。本文针对静电型MEMS周期运动测试的要求,设计并研制了一种基于FPGA平台的频闪成像和运动激励同步控制系统。论文的主要内容包括以下几个方面:1.对频闪成像技术及其在微结构周期运动测试中的应用进行分析,确定了其中频闪照明、运动激励及图像采集等信号的