小概率事件的发生概率很小，但估计其发生概率具有重要的实际意义，它在很多领域得到推广和应用，比如航天工程、保险、医疗等领域.随着亚微米技术的发展，估计SRAM失效概率变得越来越重要.针对SRAM失效这一特定的小概率事件，目前的研究大多集中于正态分布的情形，本文将其推广到一般分布.在这篇文章中，我们首先介绍了小概率事件模拟的相关理论（传统的MC抽样、重要抽样、Gibbs抽样的原理）.随后，我们介绍了MCIS抽样原理，并将其运用到SRAM失效概率估计的研究中.最后，基于文中提出的模拟精度及模拟效率的刻画标准，通过SAS软件模拟，考察了阈值电压V分别服从多元正态分布、多元t分布时的失效概率估计的情形.计算表明：为了得到可靠估计，MCIS抽样方法所需的模拟次数比传统抽样方法所需的模拟次数少，这表明我们的方法是有效的.