测量介质损耗，可以发现一系列绝缘缺陷，是检验设备绝缘的重要项目。在一次设备中，电容型设备占据的比例最高。因此，电容型设备的介质损耗因数（tanδ）通常会被作为状态检修的重要依据。目前的介损试验方法试验电压为10kV,远低于设备的运行电压，不能真实反映设备运行时的状况，而且在现场试验时会存在各种各样的问题。因此有必要深入研究电容型设备的高压介损试验。　　本文首先对介质损耗的基本概念、分类以及影响介损因数测量的因素进行了介绍，阐述了介损测量的原理及现有的测量方法。然后，本文从硬件和软件两大方面设计了电容型设备高压介损测量系统。最后，本文针对高压介损试验中现场存在的问题，从抗干扰及试验电源等方面入手，提出了相关的解决方案，并对实测数据进行了分析。　　经过现场试验，验证了本文设计的高压介损试验系统的可行性以及现场高压试验在电容型设备绝缘缺陷诊断中的有效性。