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本课题的研究主题是双层红荧烯薄膜的空穴声子耦合结构,耦合结构通过分析紫外光电子能谱(UPS)得出。UPS测量采用He*光源照射真空沉积于石墨基板的红荧烯薄膜,测量过程中逐渐增加红荧烯薄膜的厚度,测得不同厚度的紫外光电子能谱(UPS)和亚稳态原子电子谱(MAES),并调整出射光电子的检测角度,测得角分辨紫外光电子能谱(ARUPS),将不同角度的ARUPS叠加得到角度叠加谱,对角度叠加谱采用基于耦合模理论的单模式分析法(SMA)拟合,得到和振动精细结构有关的各项物理参数,同时我们调整角度整合谱的振动结构