随着物联网(IoT)的日益成熟,作为其核心技术之一的射频识别(RFID)技术更多地应用于经济社会发展各个领域,但是由于RFID系统应用环境越来越复杂,其布放更加趋于密集化。密集标签间的相互耦合会对RFID系统产生诸多互耦效应,如导致系统识别率降低、工作频率偏移,标签天线增益降低、标签激活阈值增加等。研究上述问题,这对于密集环境下的RFID系统性能研究、标签及阅读器的设计、密集标签的布放等具有重要的指导意义。首先,文章从麦克斯韦方程出发简要地介绍了RFID天线领域的基本电磁场理论,并从理论上详细分析了RFID系统中电小环尺寸天线和电大环尺寸天线的天线电磁场区划分。针对RFID系统现有成熟的工作模式,简要地介绍了电感耦合式和电磁反向散射耦合式RFID系统的工作原理。其次,基于HF RFID系统,分析了13.56MHz天线线圈周围的电磁场衰落情况,并给出了相邻两个标签之间的电磁场分布情况。提出了密集标签系统电感耦合矩阵,提取电感耦合矩阵的特征值代入汤姆逊公式预估系统频率。实验结果表明,该方法预估精确性较全耦合法、叠加法更高。再次,基于变压器模型,从无线电能传输的角度推导了UHF RFID近场系统密集标签间的互阻抗表达式,并从影响双标签间互阻抗的环境因素角度去研究UHF RFID近场频率偏移问题。测试结果表明,当标签间距d<30mm时,推导的互阻抗表达式应用于频率偏移计算误差范围为1.6MHz~7.3MHz。研究结果为基于标签间互阻抗预估UHF RFID近场标签间的互耦效应问题提供了参考依据。最后,基于UHF RFID远场系统,从密集标签间距d??2π和d(29)?2π两个方面,分别建立了小间隔密集标签HFSS仿真模型和搭建了大间隔密集标签实验测试平台,研究分析了干扰标签分别处于工作标签感应近场区和辐射远场区时UHF RFID远场系统的互耦效应,分析了互耦效应对工作标签天线的增益、方向性系数及阅读器最小发射功率的影响。