抛物面天线分为发射天线和接收天线两种，其反射面表面形状的几何精度直接影响抛物面天线的电性能的工作精度，如果反射面精度较低，反射面偏离理想抛物面，严重降低天线的增益。如何采用有效的手段精确对其进行表面精度分析是生产实际中急需解决的问题。本文中首先对抛物面天线的冲压成形过程进行了有限元数值模拟，并根据数值模拟结果规划工艺规程生产出抛物面天线。然后采用基于光栅的结构光测量系统测量抛物面天线反射面的几何形貌，并对测得的点云数据进行了预处理和曲面重构。最后将获得的CAD模型与理想模型进行比对，分析重构模型的几何精度，作为质检中合格品判断的依据。分析了几种典型的测量方法，阐述了各种测量方法的原理和优缺点。根据抛物面自身特点和精度要求，选择了基于光栅的结构光测量系统，详细介绍了该天线反射面内表面几何形貌数据的采集过程和结构光测量系统的工作原理。然后根据测得的点云数据特点，对点云数据进行了点云拼合、去除噪声、数据精简等预处理。为了获得该天线的表面精度，分析了抛物面天线的轴向增益与误差的关系、误差的种类及其来源，阐述了抛物面天线均方根误差的计算方法，将经过预处理的点云数据构建抛物面天线的CAD模型，最后对抛物面天线反射面内表面精度进行了定量分析，给出了误差分布图。本文研究了抛物面天线误差的来源，根据各自的成因，详细分析了减小或消除各种误差的方法和措施，并对其进行了误差检测，得到了较好的效果。基于逆向工程完成的研究工作，为抛物面天线的几何精度控制建立了可行的技术途径。