X线颅颌面影像分析是口腔正畸学、正颌外科学等学科对牙颌、颅面畸形进行科学研究和临床诊断、治疗的基本手段。1931年，Broadbent首先提出了将定位X线头颅照片进行X线头影测量分析并将其应用于口腔正畸学的基础与临床研究，此后，X线颅颌面影像分析技术逐步发展且日趋成熟。X线颅颌面影像分析技术在发展过程中，经历了两个阶段：第一：人工进行测量分析：人工画出颅颌面轮廓线，确定标志点，然后使用直尺、量角器等测量这些点与点之间的距离及点与点连线的角度。第二：计算机辅助测量分析：人工画出颅面轮廓线，确定标志点，而后通过图形数字化仪将标志点坐标值输入计算机内；或者，X线片经过扫描仪将图象信息输入计算机内并显示于屏幕，使用鼠标在屏幕上确定标志点。上述两种方式均为人工定点，随后，在计算机内进行测量分析。此外，计算机还可连接一些线段构成颅颌面轮廓线，还可移动组织图象，模拟矫治后的效果、生长发育的结果以及进行手术预测等。 虽然，X线颅颌面影像分析技术逐步发展且日趋成熟，但是，伴随着科学技术的发展与提高，当今的测量分析技术也有其不完善性。目前的X线颅颌面影像分析主要是通过对X线片行人工定点并输入计算机，然后进行测量分析。过程复杂且测量精度较差，测量误差随个人定点的不同而有较大差异。因此，在一定程度上影响了X线颅颌面影像分析的科学性。 近年来，一些学者在减少定点误差方面进行了研究。主要方式为：①通过计算机的图象增强技术提高各标志点的清晰度，使人工识别较为容易，从而提高人工定点的准确性；②计算机自动识别标志点：但是，计算机自动识别标志点的准确性，特别是识别率还未能超过人工定点，对于结构复杂的、较难辨认的标志点更是如此。因此，达到减少定点误差还有相当的距离；③颅颌面三维CT技术：优点为精确的立体颅颌面结构测量，缺点为价格昂贵且使受检者摄入X线较多，因而限制了此技术的应用。因此，