LED发光器件由于具有寿命长、电光转换效率高、节能的特点，而成为当今世界最受欢迎的照明产品之一。其广泛应用于通讯显示、医疗以及照明产业，但是由于其材料、结构以及所处的环境等因素，又使得其失效模式以及失效机理具有多样性，因此，对LED的常见失效模式和机理进行研究具有重要意义。
　　LED器件的理论寿命可长达105h，对其采取正常应力水平的燃点寿命测试是十分不可取的。最常见的有效手段是对LED器件施加高于正常使用的环境应力以达到缩短寿命试验时间的目的。LED器件应用在不同的环境中，其所受到的环境应力也不同，而且电流应力和温度应力对于LED发光器件是始终伴随的。因此，研究电流和温度双应力加速寿命试验对于LED发光器件的可靠性分析和寿命评估具有重要的意义。本论文主要的工作内容包括：
　　(1)从芯片、内部互联和封装三个角度对LED的常见失效模式和机理进行详细阐述和分析，对于快速找到LED器件的故障模式以及LED的架构设计具有一定的参考和借鉴意义。
　　(2)详细论述LED发光器件建模分析方法，涉及加速寿命建模分析的重要概念以及加速寿命试验的主要环节。其中主要环节包括：加速应力水平的确定、LED器件退化轨迹的计算、寿命分布参数的估计等。
　　(3)研究了LED器件电流和温度双应力加速试验对其寿命的影响。利用短周期的双应力组合梯度试验确定加速应力的上限，并选取合适的应力组合进行加速试验；选择使用“小电流”正向电压法测试LED样品在不同的加速应力水平的结温；对于寿命分布参数的估计，采取多元线性回归分析并根据估计的参数分析了样品灯具的可靠性。