现代电子设备中越来越多使用到了集成电路，其中同时具有数字功能和模拟功能的混合信号集成电路在军事和通信领域中均起着尤为重要的作用。集成电路芯片的性能优劣往往决定着电子设备中整个电路的功能好坏，因此在芯片使用之前必须要了解其性能参数，需要对集成电路芯片进行测试与测量。本文主要讨论了高速数模转换器的测试技术，研究并设计了一种基于FPGA适用于高速数模转换器的测试方案，其中待测芯片为一款16位1GSPS高速数模转换器XMD1602。在该方案中，整个测试系统可分为测试平台基板和测试平台子板两部分，其中测试平台基板的核心是FPGA芯片，负责提供测试数模转换器过程中需要的各种数字信号，测试平台子板的核心就是待测数模转换器XMD1602芯片。根据数模转换器性能参数的定义及测试原理，本论文不仅完成了测试系统硬件电路的原理图设计和PCB设计，还完成了测试系统所需的软件设计，并最终完成了XMD1602芯片静态特性参数和动态特性参数的测试与测量工作。本论文给出了高速数模转换器XMD1602的最终测试结果。XMD1602芯片的DNL为1.28LSB，INL为2.36LSB；在输入采样时钟为250MHz的条件下，当数字信号输入为30.6MHz时SFDR为68.21dB；在输入采样时钟为500MHz的条件下，当数字信号输入为30.6MHz时，SFDR为74.57dB；在输入时钟为1GHz的条件下，当数字信号输入为30.6MHz时，SFDR为53.41dB。