随着科技的飞速发展，嵌入式系统在人类生活中发挥越来越重要的作用，已广泛地应用于家电、互连网、航天航空等各个领域。由于嵌入式系统软件的规模日益提高、复杂程度不断增高，使得保证嵌入式软件的可靠性面临着严峻的挑战。嵌入式软件不同于一般的软件，其质量保证在整个系统中起到了决定性的作用，因此我们需要采用有效的测试方法，针对嵌入式领域的测试工具设计简单高效的测试系统来提高软件的质量和可靠性。本文首先介绍基于ARM的软件测试平台的硬件系统，对ARM7结构，串口及接口电路进行了研究，结合本文的实验条件，分析了集成开发环境ADS1.2。接着分析了设计平台所需的理论知识及背景技术，详细地介绍了动态测试中典型的白盒测试技术，并对嵌入式软件覆盖测试策略及插装技术进行了研究。基于EasyARM2200系统的硬件条件，在分析和研究了软件测试平台工作原理的基础上，本文设计了一个针对嵌入式软件覆盖率的测试平台。测试平台主要采用插装技术（改进了传统的插装目标代码的方式，采用插装源代码的方式），建立宿主机与目标机之间的通信，提取覆盖率信息，最终将测试结果显示在PC机上。本文设计的测试平台利用VC++6.0开发，测试平台主要包括词法语法分析、插装、联机通信、显示以及测试用例的选择这些功能模块。在文章的最后，通过ARM系统的一个实验在测试平台上进行覆盖率实际测试，进而验证了测试平台的可行性和测试结果的正确性。