射频溅射PZT铁电薄膜性能研究

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用射频溅射方法和热处理在ITO透明导电薄膜上制备了钙钛矿型PZT铁电薄膜,研究制备过程中参量的选择与铁电薄膜性能的关系.结合XRD,XPS,SEM等测试手段,对薄膜的形成过程,薄膜的表面形貌,以及薄膜的铁电性能进行了测试.
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