近年来SRAM型FPGA的单粒子效应已经成为引起空间电子仪器功能失效的主要原因之一，针对此类故障研究者们提出了三模冗余设计、两模块冗余设计等加固方法。各类加固方法一般都是以加大芯片规模或牺牲速度为代价换取可靠性的提升，因此需要进行定量分析和可靠的评估。但是单粒子辐照实验价格昂贵、时间受限，要完整得到系统容错性能就必须依赖充足覆盖率的测试样本，于是基于故障注入的设计验证方法和自动化的测试系统越来越受到关注。本文针对以上问题开展了以下研究：1、分析了空间辐照环境下单粒子效应对FPGA影响情况和失效模型，参考实验数据明确了配置存储器翻转截面所占比例最大，是最易受单粒子效应影响的部分；2、对FPGA基本结构、配置原理和动态重构技术作了深入研究；3、设计完成了基于动态重构的FPGA配置信息翻转测试系统，该系统可模拟配置信息翻转影响以测试电路抗单粒子效应能力，能够对目标系统进行快速大量的自动化测试，为系统容错性能评估提供了依据。