生率为5.6%,每年有将近90万出生缺陷患儿出生我国是人口大国,也是出生缺陷高发国家。据统计,近年来我国出生缺陷发。多数出生缺陷可致死或终身致残,这极大的影响了人口质量和家庭和谐,增加了社会负担。出生缺陷的成因复杂,其中基于遗传因素导致的出生缺陷研究得最为透彻,大量研究表明多种遗传疾病与染色体拷贝数异常有关,而非平衡性染色体异常是导致出生缺陷的重要遗传因素。目前,出生缺陷防治工作还是以预防为主,通过遗传咨询、产前筛查诊断指导生育从而降低出生缺陷婴儿的出生率。传统的染色体核型分析技术在产前诊断和疾病遗传谱研究中得到了广泛应用也取得了明显效果,但因其分辨率低、低通量、操作复杂且耗时长容易导致漏诊,耽误诊断时机,尤其在产前诊断领域的应用存在诸多限制。微整列比较基因组杂交技术(array comparative genomic hybridization,aCGH)因其高通量、高分辨率、高效率的特点被运用于非平衡性染色体异常的检测,其通过检测基因组拷贝数变异(CNVs)情况来反应染色体的异常。据研究,多种严重出生缺陷均与拷贝数异常有关,因此,aCGH在出生缺陷的基因诊断上也具有重要地位。本文利用实验室已有全基因组探针文库,对出生缺陷相关基因的探针进行选择和扩增,用于出生缺陷基因芯片的制作,构建微整列比较基因组杂交技术平台,并将其运用于出生缺陷样本基因组的检测与分析。本文运用PCR技术扩增了 7254组探针,用于BD-CA芯片的点样制作;将PCR技术和Bst酶扩增技术创造性结合运用于BD芯片4222组探针的扩增,并比较了两种探针扩增技术的特点。采用直接点样法制作出生缺陷基因芯片,同时将制作好的BD-CA芯片和BD芯片运用于多种出生缺陷基因组样本的检测,包括先天性聋哑,智力发育障碍,自闭症。我们用自制芯片对其应用过程进行了初步优化,如克隆表达了BstDNA聚合酶并运用于样本基因组的扩增,确定了样本基因组的超声破碎时间,结合实际改良芯片杂交缓冲液体系。最后,采用多种软件对数据进行整合和分析,根据图像信号对芯片的性能进行验证和分析,指导芯片的应用,挖掘出生缺陷样本基因组信息。